Balıkesir Üniversitesi
Kütüphane ve Dokümantasyon Daire Başkanlığı

Ni/Cu çok katmanlı ince filmlerin püskürtme tekniğiyle üretilmesi ve karakterizasyonu / (Kayıt no. 39187)

MARC ayrıntıları
000 -LEADER
fixed length control field 04097nam a2200277 4500
008 - FIXED-LENGTH DATA ELEMENTS--GENERAL INFORMATION
fixed length control field 160712 tu 000000 tur d
035 ## - SYSTEM CONTROL NUMBER
System control number (OCoLC)
040 ## - CATALOGING SOURCE
Original cataloging agency BAUN
Language of cataloging tur
Transcribing agency BAUN
049 ## - LOCAL HOLDINGS (OCLC)
Holding library BAUN_MERKEZ
050 04 - LIBRARY OF CONGRESS CALL NUMBER
Classification number Tez/ QC
Item number Çöl 2015
100 ## - MAIN ENTRY--PERSONAL NAME
9 (RLIN) 101797
Personal name Çölmekçi, Salih
Relator code Author
245 10 - TITLE STATEMENT
Title Ni/Cu çok katmanlı ince filmlerin püskürtme tekniğiyle üretilmesi ve karakterizasyonu /
Statement of responsibility, etc Salih Çölmekçi; tez danışmanı Prof.Dr.Hakan Köçkar, Yrd.Doç.Dr.Ali Karpuz.
260 ## - PUBLICATION, DISTRIBUTION, ETC. (IMPRINT)
Place of publication, distribution, etc Balıkesir:
Name of publisher, distributor, etc Balıkesir Üniversitesi,
Date of publication, distribution, etc 2016.
300 ## - PHYSICAL DESCRIPTION
Extent 105 yaprak :
Other physical details tablo ;
Dimensions 30 cm.
502 ## - DISSERTATION NOTE
Dissertation note Tez (Yük)--Balıkesir Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Anabilim Dalı.
504 ## - BIBLIOGRAPHY, ETC. NOTE
Bibliography, etc Kaynakça var.
520 ## - SUMMARY, ETC.
Summary, etc Bu çalışmada, doğru akım (DC) püskürtme tekniği kullanılarak Ni/Cu çok katmanlı manyetik ince filmleri üretildi. Filmler üretilirken Cu tabaka kalınlığı, toplam film kalınlığı, Ni depozisyon hızı, Ni tabaka kalınlığı değiştirildi ve bu değişimlerin filmlerin yapısal ve manyetik özellikleri üzerindeki etkileri araştırıldı. Manyetik ince filmler asetat alt tabaka üzerine büyütüldü. Bu filmlerin elementel analizi enerji ayırmalı X-ışını spektroskopisi, yapısal analizi X-ışını difraksiyonu ve taramalı elektron mikroskobu, manyetik analizi ise titreşimli numune manyetometresi ile yapıldı. Birinci seride, Cu tabaka kalınlığı 200 nm'den 0 nm'ye kadar azalırken atomik Cu içeriğinin de azaldığı tespit edildi. Cu tabaka kalınlığının 15 nm ve altında olduğu filmlerde, Cu fcc (111) pikinin kaybolduğu, Ni fcc (200) pikinin oluştuğu ve şiddetinin arttığı gözlendi. Ayrıca, Cu tabaka kalınlığı azaldıkça film yüzeyindeki taneli yapılar kaybolmuş ve yüzey çizgisel formda izlenmiştir. Bunun yanı sıra, Cu tabaka kalınlığı azaldıkça Ni içeriğindeki artışa bağlı olarak doyum manyetizasyonu (Ms) değeri 180 emu/cm3'ten 2178 emu/cm3'e artmıştır. İncelenen ikinci seride, toplam film kalınlığı 120 nm'den 280 nm'ye arttıkça atomik Ni ve Cu içerikleri sırasıyla % 51 ve % 49 değerlerinde yaklaşık olarak sabit kalmıştır. Ayrıca, toplam kalınlığı en az olan filmin tek kristal yapıda büyüdüğü ve toplam film kalınlığı arttıkça Ni (111), Ni (200) ve Cu (111) düzlemlerine ait pik şiddetlerinin arttığı görülmüştür. Bununla birlikte, toplam kalınlığı en fazla olan filmin yüzeyindeki taneli yapıların, kalınlığı daha düşük olan filmlere göre, daha fazla olduğu ancak boyutlarının küçüldüğü görülmüştür. Toplam film kalınlığının değişmesiyle, Ms değerlerinde küçük değişiklikler olduğu anlaşılmıştır. Üçüncü seride, Ni depozisyon hızındaki değişimin filmlerin kristal fazında değişiklik oluşturmadığı ancak, depozisyon hızı arttıkça tanecik sayısı azaldığı için film yüzeyinin sadeleştiği gözlendi. Ni depozisyon hızının artmasıyla Ms ve koersivite (Hc) değerlerinde bir artış olduğu tespit edildi. Ni tabakanın farklı kalınlıklarının etkisinin incelendiği dördüncü seride, tabaka kalınlığı azaldıkça atomik Ni içeriği azalmış, bunun sonucunda Ni fcc (111) düzleminin pik şiddeti azalırken Cu fcc (111) düzleminin pik şiddeti artmıştır. Ni tabaka kalınlığı azaldıkça, film yüzeyinde görülen çatlakların azalarak kaybolduğu ve Ms ile Hc değerlerinin de azaldığı anlaşılmıştır. Buna göre, Ni/Cu çok katmanlı ince filmlerin yapısal ve manyetik özelliklerinin incelenen depozisyon parametrelerinin değişiminden etkilendiği bulunmuştur.
610 20 - SUBJECT ADDED ENTRY--CORPORATE NAME
Corporate name or jurisdiction name as entry element Balıkesir Üniversitesi
General subdivision Dissertations.
650 #0 - SUBJECT ADDED ENTRY--TOPICAL TERM
Topical term or geographic name as entry element Thin films
9 (RLIN) 70377
700 1# - ADDED ENTRY--PERSONAL NAME
Relator code Thesis advisor
9 (RLIN) 81386
Personal name Köçkar, Hakan
Relator code Thesis advisor
9 (RLIN) 81498
Personal name Karpuz, Ali
710 2# - ADDED ENTRY--CORPORATE NAME
9 (RLIN) 18608
Corporate name or jurisdiction name as entry element Balıkesir Üniversitesi
Subordinate unit Fen Bilimleri Enstitüsü
856 ## - ELECTRONIC LOCATION AND ACCESS
Uniform Resource Identifier http://dspace.balikesir.edu.tr/xmlui/bitstream/handle/20.500.12462/2760/Salih_%C3%87%C3%B6lmek%C3%A7i.pdf?sequence=1&isAllowed=y
907 ## - LOCAL DATA ELEMENT G, LDG (RLIN)
Bağışlayan Balıkesir Üniversitesi.
942 ## - ADDED ENTRY ELEMENTS (KOHA)
Koha item type Tez
Mevcut
Withdrawn status Lost status Source of classification or shelving scheme Damaged status Not for loan Collection code Home library Current library Shelving location Date acquired Source of acquisition Cost, normal purchase price Full call number Barcode Date last seen Price effective from Koha item type
    Library of Congress Classification   Ödünç Verilmez Non-fiction Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi Tezler Bölümü 12/07/2016 Bağış 0.01 Tez/ QC Çöl 2016 040165 12/07/2016 12/07/2016 Tez
Bizi Sosyal Medyada Takip Edin