Balıkesir Üniversitesi
Kütüphane ve Dokümantasyon Daire Başkanlığı
Yerel kapak resmi
Yerel kapak resmi

High resolution X-ray diffractometry and topography / D. Keith Bowen and Brian K. Tanner.

Yazar: Katkıda bulunan(lar):Yayıncı: London ; Bristol, PA : Taylor and Francis, [1998]Telif hakkı tarihi:©1998Tanım: x, 252 pages : illustrations ; 28 cmİçerik türü:
  • unspecified
Ortam türü:
  • unmediated
Taşıyıcı türü:
  • volume
ISBN:
  • 0850667585
Konu(lar): LOC sınıflandırması:
  • QD945 .B683 1998
Bu kütüphanenin etiketleri: Kütüphanedeki eser adı için etiket yok. Etiket eklemek için oturumu açın.
Yıldız derecelendirmeleri
    Ortalama puan: 0.0 (0 oy)
Mevcut
Materyal türü Ana kütüphane Koleksiyon Yer numarası Durum İade tarihi Barkod Materyal Ayırtmaları
Kitap Kitap Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi Genel Koleksiyon Non-fiction QD945 .B683 1998 (Rafa gözat(Aşağıda açılır)) Kullanılabilir 017269
Toplam ayırtılanlar: 0

Includes bibliographical references and index.

Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.

bir yorum göndermek için.

Resim görüntüleyicisi'nde görüntülemek için resim üzerine tıklayınız

Yerel kapak resmi
Bizi Sosyal Medyada Takip Edin