Devre analizi ve ölçme bilgisi laboratuvarı deneyleri : bilgisayar destekli ve konu anlatımlı / Yrd. Doç. Dr. Mustafa Ergin Şahin.

Yazar:

Seri kaydı: Nobel Akademik Yayıncılık (Yayınları) ; 1732. | Nobel Akademik Yayıncılık (Yayınları). Teknik-Mühendislik dizisi ; ; 154.Yayıncı: Ankara : Nobel Akademik Yayıncılık Eğitim Danışmanlık Tic. Ltd. Şti., 2017Baskı: 1. Basım Nisan 2017Tanım: 168 pages : illustrations ; 24 cmİçerik türü:

Ortam türü:

Taşıyıcı türü:

ISBN:

Konu(lar):

LOC sınıflandırması:

Bu kütüphanenin etiketleri: Kütüphanedeki eser adı için etiket yok. Etiket eklemek için oturumu açın.

Mevcut
Materyal türü	Ana kütüphane	Koleksiyon	Yer numarası	Durum	İade tarihi	Barkod	Materyal Ayırtmaları
Kitap	Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi Genel Koleksiyon	Non-fiction	TK454 .S24 2017 (Rafa gözat(Aşağıda açılır))	Kullanılabilir		044015

Toplam ayırtılanlar: 0

Includes bibliographical references.

Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.

bir yorum göndermek için.

Resim görüntüleyicisi'nde görüntülemek için resim üzerine tıklayınız

Paylaş