Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij.
Dil: İngilizce Yayıncı: Boston: Kluwer Academic, 2003Tanım: xxiii, 713 pages : illustrations ; 24 cm. + 1 CD-ROM (4 3/4 inches)İçerik türü:- text
- unmediated
- volume
- 1402073658 (acid-free paper)
- QC482.D5 P43 2003
İçindekiler:
Contents Preface. 1. Fundamentals of Crystalline State. 2. Fundamentals of Diffraction. 3. Experimental Techniques. 4. Preliminary Data Processing and Phase Analysis. 5. Unit Cell Determination and Refinement. 6. Crystal Structure Determination. 7. Crystal Structure Refinement. Index.
| Materyal türü | Ana kütüphane | Koleksiyon | Yer numarası | Kopya numarası | Durum | İade tarihi | Barkod | Materyal Ayırtmaları | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
CD-ROM Kitap Eki
|
Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi Multimedya Bölümü | Non-fiction | QC482.D5P43 2003 (Rafa gözat(Aşağıda açılır)) | cd 1 | Kullanılabilir | CD00109 | |||
Kitap
|
Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi Genel Koleksiyon | Non-fiction | QC482.D5 P43 2003 (Rafa gözat(Aşağıda açılır)) | Kullanılabilir | 015035 |
Toplam ayırtılanlar: 0
Includes bibliographical references and index.
Contents Preface. 1. Fundamentals of Crystalline State. 2. Fundamentals of Diffraction. 3. Experimental Techniques. 4. Preliminary Data Processing and Phase Analysis. 5. Unit Cell Determination and Refinement. 6. Crystal Structure Determination. 7. Crystal Structure Refinement. Index.
Bu materyal hakkında henüz bir yorum yapılmamış.
Hesabınız ile oturum açın bir yorum göndermek için.
-baunlogo.png?alt=media&token=2b1f50b7-298a-48ee-a2b1-6fcf8e70b387)