Balıkesir Üniversitesi
Kütüphane ve Dokümantasyon Daire Başkanlığı

Aramanızda 15 sonuç bulundu.

Aradığınızı bulamadınız mı? Bakınız öneriler
Sırala
Vurgulamayı kaldır Vurgula
Tümünü seç Tümünü temizle
Eser adlarını seçin:
Açık listeler
kbb Kişisel Gelişim
Yeni liste
Sonuçlar
The Rietveld method/ edited by R.A. Young. by Seri kaydı: International Union of Crystallography monographs on crystallography ; 5Dil: İngilizce Yayıncı: Oxford: Oxford University, 2002
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QD945 .R53 2002.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij. by Dil: İngilizce Yayıncı: Boston: Kluwer Academic, 2003
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (2)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QC482.D5 P43 2003, ...

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
X-Ray diffraction : a practical approach / C. Suryanarayana and M. Grant Norton. by Yayıncı: New York: Plenum, 1998
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QC482.D5 S87 1998.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Elements of x-ray diffraction / B. D. Cullity ,S.R. Stock. by
Baskı: 3rd edition
Yayıncı: New Jersey: Prentice Hall, 2001
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QC482.D5 C84 2001.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Introduction to diffraction in materials, science, and engineering / Aaron D. Krawitz. by Yayıncı: New York : John Wiley, 2001
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon TA417.25 .K75 2001.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Introduction to X-ray powder diffractometry / Ron Jenkins, Robert L. Snyder. by Seri kaydı: Chemical analysis ; v. 138Yayıncı: New York : Wiley, [1996]Telif hakkı tarihi:©1996
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QC482.D5 J46 1996.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
High resolution X-ray diffractometry and topography / D. Keith Bowen and Brian K. Tanner. by Yayıncı: London ; Bristol, PA : Taylor and Francis, [1998]Telif hakkı tarihi:©1998
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QD945 .B683 1998.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Theory of X-ray diffraction in crystals / William H. Zachariasen. by Seri kaydı: Dover phoenix editionsDil: İngilizce Yayıncı: Mineola, N.Y. : Dover Publications, 2004
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QD945 .Z3 2004.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
X-ray diffraction / B.E. Warren by
Baskı: Dover ed
Dil: İngilizce Yayıncı: New York : Dover Publications, 1990
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (2)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QD945 .W33 1990, ...

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Powder diffraction : the Rietveld method and the two-stage method to determine and refine crystal structures from powder diffraction data / Georg Will. by Yayıncı: Berlin ; New York : Springer, [2006]Telif hakkı tarihi:©2006
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QD945 .W55 2006.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Time-resolved diffraction / edited by J.R. Helliwell and P.M. Rentzepis. by Seri kaydı: Oxford series on synchrotron radiation ; 2.Yayıncı: Oxford : Clarendon Press ; 1997Yayıncı: New York : Oxford University Press, 1997
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QC482.D5 T54 1997.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Industrial applications of X-ray diffraction / edited by Frank H. Chung, Deane K. Smith by Yayıncı: New York : Marcel Dekker, [2000]Telif hakkı tarihi:©2000
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon TA417.25 .I52 2000.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Dalga optiği / Tayfun Arı. by Seri kaydı: İlke yayın ; Fen Bilimleri dizisi ; 7.Yayıncı: Ankara : İlke, 2007
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:Genel Koleksiyon QC403 .A657 2007.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Structure of materials [electronic resource] : an introduction to crystallography, diffraction and symmetry / Marc De Graef; Michael E McHenry by
Baskı: 2nd ed., fully revised and updated.
Cambridge : Cambridge University Press, 2012
Çevrimiçi kaynaklar:
Kullanılabilirlik: Kullanılamaz:Mehmet Akif Ersoy Merkez Kütüphanesi: Çevrimiçi Kaynak (1).

Listelere kaydedin Sepete ekle
X ışınları / yazan Jean Thibaud ; çeviren Besim Tanyel. by Seri kaydı: Ankara Üniversitesi Fen Fakültesi yayınları ; Um.29 - Fiz. 18.Yayıncı: İstanbul : Marifet Basımevi, 1946
Kullanılabilirlik: Ödünç verilebilen materyaller: Necatibey Eğitim Fakültesi Kütüphanesi (1)Konumu, yer numarası:NEF Genel koleksiyon QC480.2 .T453 1946.

Ayırt Listelere kaydedin Sepete ekle
Aradığınız şeyi bulamıyor musunuz?
Bizi Sosyal Medyada Takip Edin